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INVENIO紅外光譜儀INVENIO 適用于多種應用領域及任何行業(yè),從常規(guī)質(zhì)量控制到先進的研發(fā)工作。 ![]()
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商品說明
創(chuàng)新特性
需求變化,INVENIO 適應 您的應用程序是衡量事物的尺度,INVENIO 支持您的努力。如果您的分析需求增長,INVENIO 會跟上。它是您日常分析任務所需的堅實基礎。 卓越的靈敏度 憑借新穎、高效的光路設計,以及由先進的SoC電子元件控制的精確的光學系統(tǒng),INVENIO能夠為您提供最佳性能,再細小的光譜細節(jié)亦無處可遁。 強大的軟件 OPUS作為紅外分析領域最強大的軟件解決方案之一,能夠簡化測量程序,為FTIR初學者和專家提供支持,提供大量的方法創(chuàng)建成套工具,以及樣品評估擴展功能。 時刻驗證 INVENIO具有完整的自動PQ(性能驗證)和OQ(操作驗證)程序,可在受監(jiān)管的制藥實驗室中進行儀器驗證 體驗質(zhì)量 從耐用的外殼,到擁有無損耗且精準的干涉儀,每個元件均采用最優(yōu)質(zhì)的材料制成。INVENIO經(jīng)久耐用,能夠為您提供長達多年的長久可用性。 不再受限
更多分析 INVENIO與多種類型的樣品相匹配,僅需幾秒鐘便可切換采樣附件,借助第二個樣品室,您還能并行采用兩個實驗設置。 工作更輕松 為了始終確保最佳的測量參數(shù),所有核心組件均進行了電子編碼。此外,可選的集成式觸屏電腦能夠帶來絕佳的直觀式用戶體驗,以及先進的聯(lián)網(wǎng)功能。INVENIO非常適用于需要高靈敏度、光譜或時間分辨率、穩(wěn)定性、靈活性和可升級性的情景,從而改善您在工業(yè)或研究應用領域的日常分析體驗。 質(zhì)量控制
材料表征
半導體
研發(fā)
制藥與生命科學
聚合物和化學品
環(huán)境
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